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場效應管失效分析：專業(yè)解析與解決方案
發(fā)布時間：2024-12-02 點擊次數(shù)：8269
在最近的一個案例中，廣東省華南檢測技術有限公司接到了一個緊急任務：某場效應管在測試過程中出現(xiàn)了電壓波動，導致電源失效?？蛻羝惹行枰覀冋页鰡栴}根源。場效應管失效分析是電子設備可靠性的關鍵，對于確保產(chǎn)品性能和安全至關重要。
場效應管失效分析過程：深入探究場效應管失效
1. 外觀檢查
首先，我們使用光學顯微鏡對場效應管進行了外觀檢查。結果顯示，不良品的膠身印字及印字位置與良品不一致，且不良品膠身及引腳處均有焊錫/助焊劑殘留。這些細節(jié)差異可能暗示了制造過程中的潛在問題。
2. X-Ray測試
接下來，我們進行了X-Ray測試。X射線檢查顯示不良品內部結構與良品一致，但在中間位置發(fā)現(xiàn)了明顯的異樣。這一發(fā)現(xiàn)指向了可能的內部缺陷。
3. 電性能測試
通過I-V曲線測試（電流500uA/電壓500mV），我們發(fā)現(xiàn)不良品3-2腳開路，2-1腳短路，而良品3-2腳正常，2-1腳開路狀態(tài)不一致。這表明不良品存在電性能異常。
4. 聲學掃描顯微鏡檢查
聲學掃描顯微鏡檢查進一步揭示了不良品芯片表面與塑封料結合處分層的現(xiàn)象，這可能是導致電性能異常的物理原因。
5. 化學開封后內部目檢
最后，化學開封后內部目檢顯示不良品芯片表面有燒傷痕跡，呈現(xiàn)出明顯的過電應力特征形貌。這一發(fā)現(xiàn)為我們提供了失效的直接證據(jù)。
場效應管失效分析結果：場效應管失效的結論
綜合外觀檢查、X-射線檢查、I-V曲線測試、聲學掃描顯微鏡檢查以及化學開封后內部目檢的結果，我們得出結論：不良品因EOS（過電應力）擊穿導致芯片燒毀失效。這一結論不僅為客戶解決了當前問題，也為未來的產(chǎn)品設計和制造提供了寶貴的參考。
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廣東省華南檢測技術有限公司專注于失效分析、材料分析、成分分析、可靠性測試、配方分析等檢測分析服務，擁有CMA和CNAS資質。公司坐落于東莞大嶺山鎮(zhèn)，鄰近松山湖高新技術產(chǎn)業(yè)開發(fā)區(qū)，配備了行業(yè)內先進的測試設備和專業(yè)技術團隊。華南檢測技術有限公司的客戶涵蓋多個行業(yè)，包括半導體、電子元件、納米材料、通信、新能源、汽車、航空航天、教育和科研等領域。
