如何進(jìn)行元器件的篩選呢,有哪些篩選的項(xiàng)目呢?
元器件常常會(huì)存在假冒偽劣產(chǎn)品,難以確保其質(zhì)量和可靠性,為了確保產(chǎn)品在正式投入應(yīng)用的時(shí)候排除存在可能性的元器件問(wèn)題,需要對(duì)元器件進(jìn)行嚴(yán)格的篩選,如何進(jìn)行元器件的篩選呢,有哪些篩選的項(xiàng)目呢?

一、振動(dòng)和沖擊試驗(yàn)
對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行振動(dòng)和沖擊試驗(yàn),這項(xiàng)試驗(yàn)意在模擬產(chǎn)品在使用的過(guò)程中會(huì)受到的振動(dòng)、沖擊環(huán)境,能夠有效的在模擬過(guò)程中找到不良偽劣元器件的各種故障問(wèn)題,發(fā)現(xiàn)元器件的虛焊、漏焊等多種故障,該項(xiàng)試驗(yàn)對(duì)于一些精密電子設(shè)備來(lái)說(shuō)是一項(xiàng)重要的篩選項(xiàng)目。
二、恒溫試驗(yàn)
電子元器件的失效大多數(shù)的情況是因?yàn)槠鋬?nèi)在的或表面的各種物理化學(xué)多種情況引發(fā)的,都與溫度有著多多少少的聯(lián)系。元器件在高溫的環(huán)境中,失效的進(jìn)程一會(huì)被加速,對(duì)應(yīng)的物理化學(xué)反應(yīng)的加速,使得其缺陷的元器件能夠及早的暴露出來(lái),便于剔除。該項(xiàng)篩選常常應(yīng)用在半導(dǎo)體元器件上,通常會(huì)持續(xù)在高溫儲(chǔ)存1天到1周之久,能夠有效剔除譬如鍵合不良、氧化層缺陷等各種失效機(jī)理的元器件。通過(guò)高溫貯存后,還可以使元器件的參數(shù)性能穩(wěn)定下來(lái),減少使用中的參數(shù)漂移。各種元器件的熱應(yīng)力和篩選時(shí)間要適當(dāng)選擇,以免產(chǎn)生新的失效機(jī)理。
三、高低溫試驗(yàn)
電子產(chǎn)品在使用過(guò)程中會(huì)遇到各種不同的環(huán)境,在不同的環(huán)境條件下,會(huì)受到熱的冷的環(huán)境,在熱脹冷縮的作用之下,性能較差的元器件就會(huì)出現(xiàn)產(chǎn)生各種失效機(jī)理,因此能夠通過(guò)該種試驗(yàn)來(lái)讓產(chǎn)品在高低溫環(huán)境下的熱脹冷縮的變化,進(jìn)行產(chǎn)品的篩選,有效的剔除存在性能缺陷的產(chǎn)品,通常的元器件篩選溫度在-55℃至+125℃的環(huán)境下,循環(huán)試驗(yàn)5-10次。
四、離心加速度試驗(yàn)
離心加速度試驗(yàn)又稱(chēng)恒定應(yīng)力加速度試驗(yàn)。這項(xiàng)篩選通常在半導(dǎo)體器件上進(jìn)行,把高速旋轉(zhuǎn)產(chǎn)生的離心力作用于器件上,可以剔除鍵合強(qiáng)度過(guò)弱、內(nèi)引線匹配不良和裝架不良的器件,通常選用離心加速度20000g而且持續(xù)試驗(yàn)一分鐘。
五、電性能試驗(yàn)
各種電子元器件需要在額定功率條件下試驗(yàn)數(shù)小時(shí)至一周時(shí)間。各種元器件的電應(yīng)力要適當(dāng)選擇,可以等于或稍高于額定條件,但不能引入新的失效機(jī)理。在熱電應(yīng)力的共同作用下,能很好地暴露元器件體內(nèi)和表面的多種潛在缺陷,它是可靠性篩選的一個(gè)重要項(xiàng)目。
通過(guò)各項(xiàng)目的篩選也能夠幫助我們辨別產(chǎn)品的優(yōu)劣,防止我們購(gòu)買(mǎi)到偽劣的元器件,影響到后續(xù)生產(chǎn)品的質(zhì)量。在經(jīng)過(guò)元器件篩選后的產(chǎn)品,產(chǎn)品的可靠性水平顯著提高,標(biāo)準(zhǔn)狀況下使用,產(chǎn)品會(huì)產(chǎn)生的失效率會(huì)大大降低,產(chǎn)生更為可觀的收益。
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