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ESD放電測試是什么？如何進行ESD放電測試？重要性和流程解析

ESD測試在芯片和系統設計中是一項很重要的指標，通常暴露在外面的接口更要注意靜電防護。靜電放電以及緊跟其后的電磁場變化，可能危害電子設備的正常工作。為了保證集成電路產品的良率，提高可靠性，需要對集成電路ESD防護能力進行測試。

ESD測試的方法

1.人體模擬靜電放電（HBM）測試 。測試人員模擬人體放電過程，將電荷通過人體以特定的方式傳遞給要測試的設備。

2.機器模擬靜電放電（MM）測試 。使用特定的電流脈沖模擬機器放電，以評估電子設備的ESD耐受性。

3.元件充電模式（CDM，Charge Device Model）是指因摩擦或者其它因素在IC器件內部積累了靜電電荷，由于不存在電荷泄放通路，因此在積累的過程中沒有對IC器件產生損傷.

人體放電模式（HBM)

在HBM測試中，測試人員使用靜電發生器或其他設備，通過模擬人體的電容和電阻等參數，將電荷傳遞到要測試的設備上。這種放電過程通常會在幾百納秒（ns）的時間內產生數安培（A）的瞬間放電電流，以評估設備對靜電放電的耐受能力。

HBM ESD靜電敏感度等級

機器放電模式（MM)

在MM測試中，模擬機器本身的靜電累積，當機器接觸到待測設備時，靜電通過設備的引腳放電。由于大多數機器由金屬制成，其等效電阻為0Ω，等效電容為200pF。因此，放電過程非常短暫，通常在幾毫微秒到幾十毫微秒之間，會產生數安培的瞬間放電電流。

MM ESD靜電敏感度等級

元件充電模式（CDM)

電子元器件在生產運輸過程中因為磨擦或其他原因而在元件內部積累了靜電，但在靜電積累的過程中元件沒有快速釋放電荷的過程，所以本身并未受到損傷。這種帶有靜電的元件的管腳接近或者觸碰到導體或人體時，元件內部的靜電便會瞬間放電，此種模式的放電時間可能只在幾ns內。

CDM ESD靜電敏感度等級

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